(2026). Комплексное влияние параметров системы зонд– образец на режим колебаний зонда и формирование биустойчивости в полуконтактной атомно-силовой микроскопии. Devices and Methods of Measurements.
Successfully copied to clipboard
Copying to clipboard failed
Chicago Style (17th ed.) Citation
"Комплексное влияние параметров системы зонд– образец на режим колебаний зонда и формирование биустойчивости в полуконтактной атомно-силовой микроскопии."
Devices and Methods of Measurements 2026.
Successfully copied to clipboard
Copying to clipboard failed
MLA (9th ed.) Citation
"Комплексное влияние параметров системы зонд– образец на режим колебаний зонда и формирование биустойчивости в полуконтактной атомно-силовой микроскопии."
Devices and Methods of Measurements, 2026.
Successfully copied to clipboard
Copying to clipboard failed
Warning: These citations may not always be 100% accurate.